手持式地質(zhì)勘探光譜分析儀能觀測到重復性很好的異常曲線
更新時間：2023-02-21 點擊次數(shù)：404
手持式地質(zhì)勘探光譜分析儀具有很高的分析性能，可以實時提供地球化學數(shù)據(jù)，從而有助于快速確定土壤、巖石和礦石的多元素特征。當前在便攜式XRF技術(shù)上的重大進展，大幅降低了檢測時間，優(yōu)化了檢出限，并增加了可測元素的數(shù)量。如今地質(zhì)工作者通常會使用來自Vanta分析儀的巖石地球化學信息識別巖石的類型。Vanta分析儀還可以參與完成一些標準的地質(zhì)測井工作（如：分析土壤、鉆屑和巖芯），因為Vanta分析儀可以在采樣地點即時提供客觀的化學成分數(shù)據(jù)。在進行常規(guī)視覺測井的同時甚至之前，可以使用這些數(shù)據(jù)對巖石進行分類，并解讀巖石蝕變和礦化的原因。
手持式地質(zhì)勘探光譜分析儀的特點：
1.精度好，準確率高：
核心部件原裝，采用高性能放大器及高性能AD轉(zhuǎn)化器，F(xiàn)FT數(shù)字濾波技術(shù)。分辨率高達0.1mV，在大量的實地測試中獲得與傳統(tǒng)人工電場法儀器相媲美的穩(wěn)定性。
2.抗干擾能力強：
抗干擾技術(shù)，多重抗干擾設(shè)計，經(jīng)過選頻和數(shù)字處理后，即使在城市、電干擾強或其他外部干擾的工作區(qū)，也能觀測到重復性很好的異常曲線；
3.布極靈活：傳統(tǒng)和布極方式
儀器采用粗測、細測兩種電極方便粗測和細研究，即節(jié)約大量時間，又可以獲得高精度數(shù)據(jù)?？梢允褂脙蓸O剖面、兩極測深、環(huán)形剖面、多頻測深、多頻剖面等多種布極測量方法，高效的探查不同地質(zhì)對象和解決不同的地質(zhì)問題，方便解釋。效益化分析礦脈的走向和礦脈的深度厚度。
計算機測控系統(tǒng)的使用已使手持式地質(zhì)勘探光譜分析儀成功地用于一些要求在現(xiàn)場快速成分分析的地方，例如爐前快速成分分析等。在現(xiàn)場快速成分分析系統(tǒng)主體是一個半自動全封閉的光譜實驗室，它由實驗室箱體、快速取樣和自動磨樣機、發(fā)射光譜儀、數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)、數(shù)據(jù)傳輸終端五部分組成。實驗室箱體是專門設(shè)計的，具有防震、防塵、防電磁干擾等性能，使其可以在工業(yè)現(xiàn)場使用，快速取樣和自動磨樣機使其可以滿足在現(xiàn)場快速成分分析的要求；數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)和數(shù)據(jù)傳輸終端將成分分析數(shù)據(jù)迅速傳輸給中心計算機。
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